Евразийский сервер публикаций

Евразийский патент № 039676

   Библиографические данные
(11)039676    (13) B1
(21)202092970

 A ]   B ]   C ]   D ]   E ]   F ]   G ]   H ] 

Текущий раздел: H     


Документ опубликован 2022.02.24
Текущий бюллетень: 2022-02  
Все публикации: 039676  
Реестр евразийского патента: 039676  

(22)2019.06.06
(51) H01J 49/00 (2006.01)
H01J 49/26 (2006.01)
G01N 30/86(2006.01)
(43)A1 2021.04.07 Бюллетень № 04  тит.лист, описание 
(45)B1 2022.02.24 Бюллетень № 02  тит.лист, описание 
(31)62/763,110; 62/746,323
(32)2018.06.08; 2018.10.16
(33)US; US
(86)US2019/035682
(87)2019/236776 2019.12.12
(71)ЭМДЖЕН ИНК. (US)
(72)Чжан Чжунци (US)
(73)ЭМДЖЕН ИНК. (US)
(74)Медведев В.Н. (RU)
(54)СИСТЕМЫ И СПОСОБЫ ДЛЯ УМЕНЬШЕНИЯ ИЗМЕНЧИВОСТИ МНОГОПАРАМЕТРИЧЕСКОГО СПОСОБА (MAM) МЕЖДУ ЛАБОРАТОРИЯМИ И/ИЛИ МЕЖДУ ПРИБОРАМИ ПОСРЕДСТВОМ КАЛИБРОВОК ИНТЕНСИВНОСТИ СИГНАЛОВ В ХОДЕ РАБОТЫ
   Формула 
(57) 1. Система калибровки, приспособленная для уменьшения изменчивости многопараметрических способов (МАМ) между лабораториями или между приборами посредством калибровки интенсивности сигналов в ходе работы, при этом система калибровки содержит
первый прибор с поддержкой МАМ, содержащий первый детектор, при этом первый прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием первого прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели первого прибора или (2) первого набора настроек, при этом первый прибор с поддержкой МАМ приспособлен для приема первого образца и референтного стандарта, и первый прибор с поддержкой МАМ дополнительно приспособлен для обнаружения посредством первого детектора изоформы первого образца в первом образце и первой изоформы референтного стандарта в референтном стандарте;
один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, при этом один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, приспособлены для определения посредством первой итерации МАМ первого набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте, и один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, дополнительно приспособлены для определения первого набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор значений количественных показателей в образце основан на первом наборе поправочных коэффициентов;
второй прибор с поддержкой МАМ, содержащий второй детектор, при этом второй прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием второго прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели второго прибора или (2) второго набора настроек, где состояние второго прибора отличается от состояния первого прибора,
при этом второй прибор с поддержкой МАМ приспособлен для приема второго образца и референтного стандарта и второй прибор с поддержкой МАМ дополнительно приспособлен для обнаружения посредством второго детектора изоформы второго образца во втором образце и второй изоформы референтного стандарта в референтном стандарте; и
один или несколько процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, при этом один или несколько процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, приспособлены для определения посредством второй итерации МАМ второго набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте, и один или несколько процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, дополнительно приспособлены для определения второго набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор значений количественных показателей в образце основан на втором наборе поправочных коэффициентов, и
где значение вариации для первого набора значений количественных показателей в образце и второго набора значений количественных показателей в образце уменьшается с учетом первого набора поправочных коэффициентов и второго набора поправочных коэффициентов.
2. Система калибровки по п.1, где один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, посредством первой итерации МАМ определяют атрибут качества.
3. Система калибровки по п.2, где атрибут качества представляет собой любое из изоформы первого образца, белка или идентифицированной примеси.
4. Система калибровки по п.2, где атрибут качества определяется одним или несколькими из фрагментации, окисления, гликирования, гидроксилирования, варианта последовательности, изомеризации, дезаминирования, С-концевого лизина, О-связанного гликана и/или N-связанного гликана.
5. Система калибровки по п.2, где один или несколько процессоров, связанных с первым прибором для MS, приспособлены для генерации отчета, содержащего атрибут качества.
6. Система калибровки по п.1, где модель первого прибора отличается от модели второго прибора.
7. Система калибровки по п.1, где первый набор настроек отличается от второго набора настроек.
8. Система калибровки по п.1, где первый набор поправочных коэффициентов основан на значении интенсивности ионов первой изоформы референтного стандарта и первом значении количественного показателя в референтном стандарте первой изоформы референтного стандарта.
9. Система калибровки по п.1, где первый набор поправочных коэффициентов обеспечивает калибровку коэффициента отклика, связанного с первым набором значений количественных показателей в образце, с определением значения интенсивности ионов изоформы первого образца.
10. Система калибровки по п.1, где первый набор значений количественных показателей в образце дополнительно основан на значении интенсивности ионов изоформы первого образца.
11. Система калибровки по п.1, где первый прибор с поддержкой МАМ представляет собой прибор для масс-спектрометрии (MS).
12. Система калибровки по п.1, где первый прибор с поддержкой МАМ представляет собой трехквадрупольный прибор.
13. Система калибровки по п.1, где один или несколько процессоров, связанных с первым прибором для MS, соединены с возможностью осуществления связи по компьютерной сети с одним или несколькими процессорами, связанными со вторым прибором для MS.
14. Система калибровки по п.1, где один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, представляют собой один или несколько процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ.
15. Система калибровки по п.1, где первый прибор с поддержкой МАМ расположен в первой лаборатории в первом географическом местоположении, а второй прибор с поддержкой МАМ расположен во второй лаборатории во втором географическом местоположении.
16. Способ калибровки для уменьшения изменчивости многопараметрических способов (МАМ) между лабораториями или между приборами посредством калибровки интенсивности сигналов в ходе работы, при этом способ калибровки предусматривает
прием в первом приборе с поддержкой МАМ, содержащем первый детектор, первого образца и референтного стандарта;
обнаружение посредством первого детектора изоформы первого образца в первом образце и первой изоформы референтного стандарта в референтном стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, в течение первой итерации МАМ первого набора поправочных коэффициентов, соответствующего первой изоформе образца, где первый набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, первого набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор значений количественных показателей в образце основан на первом наборе поправочных коэффициентов и где первый прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием первого прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели первого прибора или (2) первого набора настроек;
прием во втором приборе с поддержкой МАМ, содержащем второй детектор, второго образца и референтного стандарта;
обнаружение посредством второго детектора изоформы второго образца во втором образце и второй изоформы референтного стандарта в референтном стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, в течение второй итерации МАМ второго набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, второго набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор значений количественных показателей в образце основан на втором наборе поправочных коэффициентов и где второй прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием второго прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели второго прибора или (2) второго набора настроек, где
состояние второго прибора отличается от состояния первого прибора и где значение вариации для первого набора значений количественных показателей в образце и второго набора значений количественных показателей в образце уменьшается с учетом первого набора поправочных коэффициентов и второго набора поправочных коэффициентов.
17. Способ калибровки для уменьшения изменчивости прибора с поддержкой МАМ в течение нескольких периодов времени посредством калибровки интенсивности сигналов в ходе работы, при этом способ калибровки предусматривает
прием в приборе с поддержкой МАМ в течение первого периода времени первого образца и референтного стандарта;
обнаружение посредством детектора прибора с поддержкой МАМ в течение первого периода времени изоформы первого образца в первом образце и первой изоформы референтного стандарта в референтном стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров в течение первой итерации МАМ в течение первого периода времени первого набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров посредством первой итерации МАМ в течение первого периода времени первого набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор значений количественных показателей в образце основан на первом наборе поправочных коэффициентов и где прибор с поддержкой МАМ в течение первого периода времени характеризуется состоянием первого прибора, определенным первым набором настроек;
прием в приборе с поддержкой МАМ в течение второго периода времени второго образца и референтного стандарта;
обнаружение посредством детектора прибора с поддержкой МАМ в течение второго периода времени изоформы второго образца во втором образце и второй изоформы референтного стандарта в референтном стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров в течение второй итерации МАМ в течение второго периода времени второго набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте; и определение посредством одного или нескольких процессоров посредством второй итерации МАМ в течение второго периода времени второго набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор значений количественных показателей в образце основан на втором наборе поправочных коэффициентов и где прибор с поддержкой МАМ в течение второго периода времени характеризуется состоянием второго прибора, определенным вторым набором настроек,
где состояние второго прибора отличается от состояния первого прибора и где значение вариации для первого набора значений количественных показателей в образце и второго набора значений количественных показателей в образце уменьшается с учетом первого набора поправочных коэффициентов и второго набора поправочных коэффициентов.
18. Способ калибровки по п.17, где один или несколько процессоров определяют атрибут качества.
19. Способ калибровки по п.18, где атрибут качества представляет собой любое из изоформы первого образца, изоформы второго образца, белка или идентифицированной примеси.
20. Способ калибровки по п.18, где один или несколько процессоров приспособлены для генерации отчета об атрибуте качества.
21. Система калибровки по п.1, где значение вариации для первого набора значений количественных показателей в образце и второго набора значений количественных показателей в образце уменьшается на по меньшей мере 25%.
22. Способ калибровки по п.16, где значение вариации для первого набора значений количественных показателей в образце и второго набора значений количественных показателей в образце уменьшается на по меньшей мере 25%.
23. Способ калибровки по п.17, где значение вариации для первого набора значений количественных показателей в образце и второго набора значений количественных показателей в образце уменьшается на по меньшей мере 25%.
24. Система калибровки по п.1, где первый образец представляет собой протеолитический пептид, второй образец протеолитического пептида и референтный стандарт представляет собой протеолитический пептид.
25. Способ калибровки по п.16, где первый образец представляет собой протеолитический пептид, второй образец протеолитического пептида и референтный стандарт представляет собой протеолитический пептид.
26. Способ калибровки по п.17, где первый образец представляет собой протеолитический пептид, второй образец протеолитического пептида и референтный стандарт представляет собой протеолитический пептид.
27. Система калибровки, приспособленная для уменьшения изменчивости многопараметрических способов (МАМ) между лабораториями или между приборами посредством калибровки интенсивности сигналов в ходе работы, при этом система калибровки содержит первый прибор с поддержкой МАМ, содержащий
первый детектор, при этом первый прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием первого прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели первого прибора или (2) первого набора настроек, при этом первый прибор с поддержкой МАМ приспособлен для приема первого образца и референтного стандарта, и первый прибор с поддержкой МАМ дополнительно приспособлен для обнаружения посредством первого детектора изоформы первого образца в первом образце и первой изоформы референтного стандарта в референтном стандарте, где первый образец подготовлен посредством первого типа подготовки;
один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, при этом один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, приспособлены для определения посредством первой итерации МАМ первого набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте и один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, дополнительно приспособлены для определения первого набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор значений количественных показателей в образце основан на первом наборе поправочных коэффициентов;
второй прибор с поддержкой МАМ, содержащий второй детектор, при этом второй прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием второго прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели второго прибора или (2) второго набора настроек,
где состояние второго прибора отличается от состояния первого прибора,
при этом второй прибор с поддержкой МАМ приспособлен для приема второго образца и референтного стандарта и второй прибор с поддержкой МАМ дополнительно приспособлен для обнаружения посредством второго детектора изоформы второго образца во втором образце и второй изоформы референтного стандарта в референтном стандарте, где второй образец подготовлен посредством второго типа подготовки, и
где первый тип подготовки отличается от второго типа подготовки образцов, что приводит к вариации между первым образцом и вторым образцом, при этом вариация вызвана искусственным изменением количественного показателя атрибута в ходе подготовки образцов; и
один или несколько процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, при этом один или несколько процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, приспособлены для определения посредством второй итерации МАМ второго набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте, и один или несколько процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, дополнительно приспособлены для определения второго набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор значений количественных показателей в образце основан на втором наборе поправочных коэффициентов, и
где значение вариации для первого набора значений количественных показателей в образце и второго набора значений количественных показателей в образце уменьшается с учетом первого набора поправочных коэффициентов и второго набора поправочных коэффициентов,
где меньшей мере один из (1) одного или нескольких процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, посредством первой итерации МАМ или из (2) одного или нескольких процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, посредством второй итерации МАМ определяет атрибут качества с уменьшением вариации между первым образцом и вторым образцом, при этом атрибут качества связан с атрибутом 2 типа или атрибутом 3 типа.
28. Система калибровки по п.27, где атрибут 2 типа обусловливает уменьшение количественного показателя в ходе подготовки первого образца или второго образца.
29. Система калибровки по п.27, где атрибут 3 типа обусловливает увеличение количественного показателя в ходе подготовки первого образца или второго образца.
30. Способ калибровки для уменьшения изменчивости многопараметрических способов (МАМ) между лабораториями или между приборами посредством калибровки интенсивности сигналов в ходе работы, при этом способ калибровки предусматривает
прием в первом приборе с поддержкой МАМ первого образца и референтного стандарта, при этом первый прибор с поддержкой МАМ содержит первый детектор и первый прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием первого прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели первого прибора или (2) первого набора настроек;
определение посредством первого детектора первого прибора с поддержкой МАМ изоформы первого образца в первом образце и первой изоформы референтного стандарта в референтном стандарте, где первый образец подготовлен посредством первого типа подготовки;
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, в течение первой итерации МАМ первого набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, первого набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор значений количественных показателей в образце основан на первом наборе поправочных коэффициентов;
прием во втором приборе с поддержкой МАМ второго образца и референтного стандарта, при этом второй прибор с поддержкой МАМ содержит второй детектор, при этом второй прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием второго прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели второго прибора или (2) второго набора настроек, где состояние второго прибора отличается от состояния первого прибора;
обнаружение посредством второго детектора второго прибора с поддержкой МАМ изоформы второго образца во втором образце и второй изоформы референтного стандарта в референтном стандарте, где второй образец подготовлен посредством второго типа подготовки и где первый тип подготовки отличается от второго типа подготовки образцов, что приводит к вариации между первым образцом и вторым образцом, при этом вариация вызвана искусственным изменением количественного показателя атрибута в ходе подготовки образцов;
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, в течение второй итерации МАМ второго набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте; и
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, второго набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор значений количественных показателей в образце основан на втором наборе поправочных коэффициентов;
где значение вариации для первого набора значений количественных показателей в образце и второго набора значений количественных показателей в образце уменьшается с учетом первого набора поправочных коэффициентов и второго набора поправочных коэффициентов, и
где меньшей мере один из (1) одного или нескольких процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, посредством первой итерации МАМ или из (2) одного или нескольких процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, посредством второй итерации МАМ определяет атрибут качества с уменьшением вариации между первым образцом и вторым образцом, при этом атрибут качества связан с атрибутом 2 типа или атрибутом 3 типа.
31. Способ калибровки по п.30, где атрибут 2 типа обусловливает уменьшение количественного показателя в ходе подготовки первого образца или второго образца.
32. Способ калибровки по п.30, где атрибут 3 типа обусловливает увеличение количественного показателя в ходе подготовки первого образца или второго образца.
33. Система калибровки, приспособленная для уменьшения изменчивости многопараметрических способов (МАМ) между лабораториями или между приборами посредством калибровки интенсивности сигналов в ходе работы, при этом система калибровки содержит
первый прибор с поддержкой МАМ, содержащий первый детектор, при этом первый прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием первого прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели первого прибора или (2) первого набора настроек, при этом первый прибор с поддержкой МАМ приспособлен для приема первого образца, референтного стандарта и подвергнутого стрессовому воздействию стандарта, и при этом первый прибор с поддержкой МАМ дополнительно приспособлен для обнаружения посредством первого детектора изоформы первого образца в первом образце, первой изоформы референтного стандарта в референтном стандарте и изоформы подвергнутого стрессовому воздействию референтного стандарта в подвергнутом стрессовому воздействию стандарте;
один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, при этом один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, приспособлены для определения посредством первой итерации МАМ первого набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте и подвергнутом стрессовому воздействию стандарте, и один или несколько процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, дополнительно приспособлены для определения первого набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор значений количественных показателей в образце основан на первом наборе поправочных коэффициентов;
второй прибор с поддержкой МАМ, содержащий второй детектор, при этом второй прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием второго прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели второго прибора или (2) второго набора настроек,
где состояние второго прибора отличается от состояния первого прибора,
при этом второй прибор с поддержкой МАМ приспособлен для приема второго образца и референтного стандарта и подвергнутого стрессовому воздействию стандарта, и второй прибор с поддержкой МАМ дополнительно приспособлен для обнаружения посредством второго детектора изоформы второго образца во втором образце, второй изоформы референтного стандарта в референтном стандарте, и второй изоформы подвергнутого стрессовому воздействию стандарта в подвергнутом стрессовому воздействию стандарте; и
один или несколько процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, при этом один или несколько процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, приспособлены для определения посредством второй итерации МАМ второго набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте и подвергнутом стрессовому воздействию стандарте, и один или несколько процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, дополнительно приспособлены для определения второго набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор значений количественных показателей в образце основан на втором наборе поправочных коэффициентов, и
где значение вариации для первого набора значений количественных показателей в образце и второго набора значений количественных показателей в образце уменьшается с учетом первого набора поправочных коэффициентов и второго набора поправочных коэффициентов.
34. Система калибровки по п.33, где подвергнутый стрессовому воздействию стандарт содержит более высокий уровень атрибутов качества по сравнению с референтным стандартом.
35. Способ калибровки для уменьшения изменчивости многопараметрических способов (МАМ) между лабораториями или между приборами посредством калибровки интенсивности сигналов в ходе работы, при этом способ калибровки предусматривает
прием в первом приборе с поддержкой МАМ первого образца, референтного стандарта и подвергнутого стрессовому воздействию стандарта, при этом первый прибор с поддержкой МАМ содержит первый детектор, и первый прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием первого прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели первого прибора или (2) первого набора настроек;
определение посредством первого детектора первого прибора с поддержкой МАМ изоформы первого образца в первом образце, первой изоформы референтного стандарта в референтном стандарте и изоформы подвергнутого стрессовому воздействию референтного стандарта в подвергнутом стрессовому воздействию стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, в течение первой итерации МАМ первого набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте и подвергнутом стрессовому воздействию стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных с первым прибором с поддержкой МАМ, первого набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе первого образца, где первый набор значений количественных показателей в образце основан на первом наборе поправочных коэффициентов;
прием вторым прибором с поддержкой МАМ второго образца, эталонного стандарта и подвергнутого стрессовому воздействию стандарта, при этом прибор с поддержкой МАМ содержит второй детектор, и второй прибор с поддержкой МАМ характеризуется состоянием второго прибора, определенным по меньшей мере одним из (1) модели второго прибора или (2) второго набора настроек, где состояние второго прибора отличается от состояния первого прибора;
обнаружение посредством второго детектора второго прибора с поддержкой МАМ изоформы второго образца во втором образце, второй изоформы референтного стандарта в референтном стандарте и второй изоформы подвергнутого стрессовому воздействию стандарта в подвергнутом стрессовому воздействию стандарте;
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, в течение второй итерации МАМ второго набора поправочных коэффициентов, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор поправочных коэффициентов основан на референтном стандарте и подвергнутом стрессовому воздействию стандарте; и
определение посредством одного или нескольких процессоров, связанных со вторым прибором с поддержкой МАМ, второго набора значений количественных показателей в образце, соответствующего изоформе второго образца, где второй набор значений количественных показателей в образце основан на втором наборе поправочных коэффициентов;
где значение вариации для первого набора значений количественных показателей в образце и второго набора значений количественных показателей в образце уменьшается с учетом первого набора поправочных коэффициентов и второго набора поправочных коэффициентов.
36. Способ калибровки по п.35, где подвергнутый стрессовому воздействию стандарт содержит более высокий уровень атрибутов качества по сравнению с референтным стандартом.
Zoom in